Photon Inc.'s NanoScan - Scanning-Slit Laser Beam Profiler

Die Besonderheit des Strahlanalysesystem NanoScan von PHOTON Inc. ist die präzise Messung der Strahlbreite und Strahlposition (Pointing).
Die Messung der Strahlbreite erfolgt gemäß ISO 11146 nach der Methode der zweiten Momente oder alternativ bei 1/e² (13.5%) oder FWHM (50%).

Das Strahlprofilmessgerät NanoScan zeichnet sich gegenüber dem Vorgängermodell BeamScan durch eine noch höhere Dynamik und Sub-µm-Genauigkeit aus.
Der Beam Profiler NanoScan ist für alle cw und schnell gepulsten Laser einsetzbar - ohne Abschwächung der Laserleistung! Drei Sensor-Varianten decken den Wellenbereich von 190 nm bis 20 µm ab - also auch CO2-Laser bis 300 W:

Silizium und Germanium: Strahlprofilmessung für Durchmesser > 10 µm im Wellenlängenbereich 190 - 1700 nm mit Leistung bis zu 1 W.

Pyrokristall: Laserstrahldiagnose für Strahldurchmesser > 50 µm im gesamten Wellenlängenbereich 200 nm bis 20 µm (auch CO2-Laser) mit Leistungen bis 100 W.
Die High Power-Version ist für Laserleistungen bis 300 W geeignet.

Mit dem NanoModeScan kann NanoScan zu einem automatisierten M2-Messgerät erweitert werden.