Zur Vermessung von divergenten Quellen wie Leuchtdioden, Laserdioden oder faseroptischen Quellen reichen herkömmliche Beamprofiler oft nicht aus.
Grund dafür ist die limitierte Größe der Messapertur, welche von diesen Quellen meist überstrahlt wird. Gelöst wird dieses Problem durch die Verwendung eines goniometrischen Messsystems. Dabei wird ein Detektor durch das Strahlprofil der Quelle gescannt. Bis zu 200 dieser Scans in verschiedenen Schnittebenen ergeben dann das zusammengesetzte dreidimensionale Bild der Quelle.

Modellübersicht:

• LD8900 - Dynamikbereich 24 dB
• LD8900R - Dynamikbereich 36 dB
• LD8900HDR - Dynamikbereich 64 dB

Detektoroptionen:

• Silizium - Spektralbereich 320...1100 nm
• InGaAs - Spektralbereich 900...1700 nm